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敞開式直線光柵尺海德漢Heidenhain

產品簡介

敞開式直線光柵尺海德漢Heidenhain
敞開式直線光柵尺設計用于對測量精度要求*的機床和系統(tǒng)。

典型應用包括:

半導體業(yè)的測量和生產設備
PCB電路板組裝機
超高精度機床
高精度機床
測量機和比較儀,測量顯微鏡和其它精密測量設備
直驅電機

產品型號:
更新時間:2024-11-19
廠商性質:經銷商
訪問量:802
詳細介紹
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敞開式直線光柵尺海德漢Heidenhain

敞開式直線光柵尺

敞開式直線光柵尺設計用于對測量精度要求*的機床和系統(tǒng)。

典型應用包括:

  • 半導體業(yè)的測量和生產設備
  • PCB電路板組裝機
  • 超高精度機床
  • 高精度機床
  • 測量機和比較儀,測量顯微鏡和其它精密測量設備
  • 直驅電機

式編碼器

系列說明
LICLIC敞開式直線光柵尺能夠對行程達28 m和高速運動進行位置測量。其尺寸和安裝方式與LIDA 400相同。

輸出位置值的編碼器

系列說明
LIP 200LIP 211和LIP 291增量式直線光柵尺輸出位置值的位置信息。正弦掃描信號在讀數頭中被高倍頻細分且其計數功能將細分的信號轉換成位置值。與所有增量式編碼器一樣,借助參考點確定原點。

增量式編碼器

系列說明
LIP

超高精度

LIP敞開式直線光柵尺擁有極小的測量步距,*的精度和重復精度。掃描方式為干涉掃描,測量基準為DIADUR相位光柵。

LIF

高精度

LIF敞開式直線光柵尺的測量基準是SUPRADUR工藝制造的玻璃基體光柵,采用干涉掃描方法。特點是精度高和重復精度高,安裝特別簡單,有限位開關和回零軌。特殊型號的LIF 481 V可用于10–7 bar的真空環(huán)境中(參見其單獨“產品信息”)。

LIDA

高速運動和大測量長度

LIDA敞開式直線光柵尺特別適合運動速度達10 m/s的高速運動應用,支持多種安裝方式,安裝特別簡單。根據相應應用要求,METALLUR光柵的基體可為鋼帶,玻璃或玻璃陶瓷。也有限位開關。

PP

二維坐標測量

PP二維編碼器的測量基準是平面DIADUR工藝制造的相位光柵,采用干涉掃描方法。用于測量平面中位置。

LIP/LIF

高真空和超高真空技術

我們的標準編碼器適用于低真空或中等真空應用。高真空或超高真空應用的光柵尺需要滿足一些特殊要求。采用的設計和材質必須滿足應用要求。更多信息,參見“真空中應用的直線光柵尺”產品信息。

以下敞開式直線光柵尺于高真空或超高真空應用環(huán)境。

• 高真空:LIP 481 V和LIF 481 V 
• 超高真空:LIP 481 U

海德漢敞開式直線光柵尺的全新信號處理ASIC芯片

海德漢敞開式直線光柵尺是*精度定位或高準確性運動的理想選擇。為確保光柵尺在整個生命周期中都滿足高精度要求,海德漢最xin開發(fā)了全新ASIC信號處理芯片:HSP 1.0。有關該芯片如何接近*地補償信號變化和恢復最初的信號質量,請看視頻。

敞開式直線光柵尺海德漢Heidenhain

LIC 4100

型號基線誤差基體和安裝方式細分誤差測量長度
 精度等級局部   
LIC 4113
LIC 4193
± 3 μm
± 5 μm

≤ ± 0.275 μm/ 10 mm

玻璃或玻璃陶瓷光柵尺,嵌入在安裝面中

± 20 nm240 mm 3040 mm
LIC 4115
LIC 4195
± 5 μm≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并預緊± 20 nm140 mm  28440 mm
LIC 4117
LIC 4197
± 3 μm
± 5 μm
± 15 μm
≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并固定± 20 nm240 mm  6040 mm
LIC 4119
LIC 4199
± 3 μm
± 15 μm
≤ ± 0.750 μm/ 50 mm (typ.)鋼帶光柵尺粘貼在安裝面上± 20 nm70 mm  1020 mm

LIC 2100

型號基線誤差基體和安裝方式細分誤差測量長度
 精度等級局部   
LIC 2117
LIC 2197
± 15 μm

 

鋼帶光柵尺穿入在鋁殼中并固定

± 2 μm120 mm  3020 mm
LIC 2119
LIC 2199
± 15 μm 鋼帶光柵尺粘貼在安裝面上± 2 μm120 mm  3020 mm

如有需要詳情,請見: 敞開式直線光柵尺

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